抗干扰用MKP型金属化聚丙烯薄膜电容器的tgδ

　　研究与试制抗干扰用厘型金属化聚丙烯薄膜电容器的15师向虎，杨晓舟8上海中狮电子有限公司，上海201206阻大小芯子的错边喷金粒子的大小喷金前芯子端面上的灰尘是导致电容器芯子在经过赋能，成品耐电压试验，脉冲电压试验后15变大的主要原因在这类电容器制造过程中应严格控制这些因素8抗干扰电容器主要应用于电子和电器设备中降低电源负载和设备之间的相互干扰，它必须能承受诸如闪电弓1起的高电压的冲击。

　　制作抗干扰用MKP型金属化聚丙烯薄膜电容器有相当的工艺难度。如何在生产中控制该电容器的电5，直是要解决的主要工艺问。笔者简要探讨这类电容器鲈的主要影响因素及工艺问。

　　抗干扰电容器的通用标准是正038414.这类电容器有跨接型又类或尺0组件搂地型抗干扰电容器类或厌0组件。

　　又类电容器或厌，组件适用于当其失效时不会导致电冲击危险的场合。这类电容器按叠加到电源电压上的脉冲电压值大小分为类又沿和又3.类电容器或组件适用于电容器失效时会导致电冲击危险的场合。

　　这里以抗干扰用类型金属化聚丙烯薄膜电容器以下简称X2类MKP型抗干扰电容器为例进行讨论I 1类型抗干扰电容器的结构与技术指标1.1结构52类型抗干扰电容器般是采用铝金属化聚丙烯膜卷制芯子，先喷锌后喷锌锡，用塑料外壳，通过环氧树脂灌注而成。或者是由锌铝复合金属化聚丙烯薄膜卷制芯子，先喷锌铝后喷锌锡。其结构12，其薄膜采用边缘加厚结构。

　　1.2主要技术指标加强边蠓极间绝缘电阻0.33极间试验电压741也2300 2极间耐电压试验额定电容量103该电容器在耐久性试验前应在极间施加24次相同极性的脉冲电压进行试验，试验应无永久击穿或飞弧，而且有次或更多次的波形明未发生自愈性击穿。对于电容量不超过10尸振荡的峰峰脉冲电压叫应不大于峰值脉冲电压的3.为确保该电容器的质量，在制造过程中焊接前的芯子要分别经过030电压和2600的阶梯直流电压电子有限公司工作，现任新产品开发工程师。说。杨晓舟1969，男，河南南阳人，硕士。现为公电子元件与材料2001年6月7压的耐电压试验，出厂前要抽测适量的成品进行3波形的3次试验，而试验后屯5100扭2的增量不能超过规定值。

　　在制造过程中如果工艺不良电容器的培就会在赋能后或成品耐电压试验后，或者在抽测试验后变大而失效。因此，在生产过程中就要长严格控制1艺，从而达训控制秘的目的1 3电容器的15从基础理论可知，当电容器的固有电感小到可以忽略时，电容器的损耗由部分组成，即主要介质损耗每4辅助介质损耗15.漏尉员牦担4以及金属似6与它们之间的接触损牦喊，类抗干扰电容器由于不进行涂覆，只用环氧树脂灌注，因此可不考虑辅助介质损耗屯各在常温1或10，扭2频率条件下用，130仪测试时，分析损耗问般可以不考。虑漏导损耗151.因此主要分析18各和18在1 3.1介质损耗扭各52类型抗干扰电容器的介质是聚丙烯薄膜，般情况下聚丙烯膜的151在1扭2201；条件下测试约为1.5，210但随着温度的升高而减小；随着频率的升高而增大，其变化甚微。在电容器的制造过程中，般无法改进电容器介质本身的龟各，因此，在分析电容器的185时，如果测试频率定则可以不考虑龟各的变化。

　　3.2金属损耗及接触损耗屯薄膜方阻大小，芯子错边薄膜金属层纵向划伤喷金粒子太大芯子端面喷金层不完全弓线虚焊喷金前芯子端面的灰尘等都是引起龟5在赋能后，或耐电压试验后，或抽样脉冲电压试验后增大的重要原因。这部分我们着重讨论。

　　3.2.1金属损耗金属损耗包括电容器的电极损耗喷金层的损耗和引线器芯子的结构。方阻越大，损耗越大；长而细的芯子，损耗也就比较大。又2类抗干扰电容器采用边缘加厚金属化聚丙烯薄膜，铝蒸发膜般边缘部分的方阻小于2邙口，其余部分为36口锌铝蒸发膜般边缘部分的方阻小于30口，其余部分为712邙口。选择适当方阻的金属化薄膜非常重要。这是因为方阻大，金属膜就薄，电容器的自愈性能虽好，但电容器的极板损耗将会变大，使1目41较大。而且在这种情况下金属膜的载流能力也小，使用时就可能发热，严重时将导致电容器发热失效。尤其是电容器的端面部分，电流密度******，方阻太大也就是说金属膜太薄时，喷金层与薄膜的金属膜之间的接触点将会因不能承受如此大的电流逐渐开路，导致电不断地增大而使135增大而失效。相反，如方阻小，51也就相应小。但方阻太小，电容器的自愈性能就较差。这是因为方阻小，金属膜就厚，在自愈过程中需要的能量就大，使自愈点温度太高，在该点就有可能使临近的薄膜引起新的自愈，严重时会使该自愈点连续引起新的临近的膜自愈，******导致薄膜大面积击穿熔化而从芯中出现碳化后的黑色熔融体，使电容器失效，严重时还会弓起电袢器外壳开裂所以。为了提高载流能力，+影啊自愈性能，幻类型抗干扰电容器采用了加厚边缘的金属化结构。

　　薄膜蒸发层横向划伤也会导致1841变大。当薄膜蒸发层划伤后，从电容器芯子端面流入的电流改变了流动的路径，使电容器金属部分的等效串联电阻增大。

　　喷金层般是锌+锌锡组合层或锌铝+锌锡层，这部分损耗般很小，可以忽略不计。大电容量长引线的电容器，在高频条件下测试时，由于引线电感的影响，将导致电容器的损耗15明显增加。采用浸锡紫铜线比浸锡铜包钢线的同类电容器的城要小很多。

　　3.2.2接触损耗接触损耗是喷金层与蒸发层之间引线与喷金层之间的接触损耗。对于又2类抗干扰电容器来说，这两个接触面的接触损耗的大小将决定电容器在赋能后或耐电压试验后，或抽样脉冲电压试验后15的大小和电容器的使用寿命。而且芯子无错边喷金粒子太大芯子端面喷金层不完全引线虚焊喷金前芯十端⑴七灰个等都会引起接触损耗增人而导致培变大，***终导致秘变大。检查电容器端面接触是否可靠，通常的办法；对电容器进数百次的短路充放电试验。如试验前后15变化甚微兑明端面接触良好；否则，应采取措施改善端面的接触性。

　　1芯子的错边在卷绕金属化电容器芯子时，两层薄膜之间应留有定的错边，以便喷金时金属粒子与薄膜的金属蒸发层有良好的接触。般的电容器，其错边应确保大于定所形成的面和喷金层而连接的。般情况下，蒸发层很薄，就是加厚边缘也在0.05以，以下，所以喷金层与薄膜上的金属蒸发层端面只有微弱的连接。如果错边太小或无错边，只靠喷金粒子与很小的错边或蒸发层的端面接触来连接，电容器耐电压试验时，在大电流的作用下，喷金层与蒸发层的某些接触颗粒点就会烧断，导致接触电阻变大，使141变大，从而使15增大。

　　在生产过程中，经常遇到电容器的185100在耐电压试验后变大，特别是在脉冲电压试验后更大。解剖时发现芯子错边很小，或者部分卷绕圈无错边，这是由于喷金层与蒸发层的接触1汰3玄部位碰承受如此尺的电流，使某1很触点祚屯流2弓线虚焊弓端般是将弓线焊接在芯子的吨金层而引出的，而引线与喷金层之间的焊接质量也会影响电容器的电如果引线虚焊，在后道工序装外壳或灌注过程中，或成品耐电压试验时会导致引线与金属层脱离，造成电容器的等******开发生产。设计侃妾度9001该设备较之普通的网带式传送炉具，省电保温功率1工，产里大以0片子计，每，4小时产***约18万片，造价低，占地小等优点本公司可晷户要塍窑网银炉印，箱式炉预锡炉及各类干燥设备。

　　成都华电子设抑造有限公司连续式立式烧结炉地址成武核大道占福村皤5，610041电话，28电子元件与材料2001年6月效串联电阻增大，使1841变大，***终导致15变大。

　　3喷金层不完全指芯子喷金端面部分没有喷金层。

　　在大电流的作用下就会出现间隙放电，从而使喷金层与薄膜上大，******使喷金层完全脱离导致电容器开路失效。喷金层不完全般是由于芯子掩模纸太宽，在喷金前掩模纸倒边导致芯子部分端面没有喷上金属，或者是喷金后去毛刺时损伤了喷金层，特别是去毛刺损伤喷金层。严重时会造成部分区域的喷金层与薄膜上的蒸发层之间的接触不良，导致接触电阻增大，从而使15增大。因此，在生产过程中就应尽量避免这种现象出现，且要适当控制喷金层的厚度和去毛刺的时间。

　　⑷灰尘喷金前，如果灰尘飞落在芯子端面上，会导致喷层与薄膜蒸发层之叫的接触不良火有时是来自周围环境，有时是来自喷金过程中氧化后的喷金粒子所形成的灰尘。

　　尤其是后者，控制不良，这些灰1就极易飞落到芯子的另端面，或混入喷金层中。由于氧化后的喷金粒子办，或12，3等都是不导电的绝缘体，旦这些粒子飞落到芯子端面的某点，这点的喷金层与蒸发层就脱离接触，如果大量的灰尘飞落到芯子端面，就会导致喷金层与蒸发层之间的严重接触不良，使接触电阻增大，则1相应增大。特别是这样的电容器经过赋能，或成品耐电压试验，或脉冲电压试验后，由于芯子端面不能承受如此大的电流的作用，使喷金层与蒸发层之间的坫叫接触点被烧断人而进步导致接触电阻，大史吵相应变大，严重时将会导致喷金层完全脱离使电容器开路失效。

　　因此，在喷金过程中就方面应严格控制喷枪喷口至芯子之间应避免氧化后的粒子灰尘飞落到芯子端面。

　　4结论，响，0类抗干扰电荇器的电5主要闽素由薄膜介明本讣发膜的方阻以及蒸发膜的横向划伤是影响金属损耗的主要原因。芯子的错边喷金粒子的大小喷金前芯子端面上的灰尘和引线冰植响接触损耗的要素胃尤儿是薄脱的方虬芯+导致电容器经过赋能，或成品耐电压试验，或脉冲电压试验后185变大的主要原因。因此，在又2类型抗干扰电容器的制造过程中，严格控制这些因素是非常必要的。

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